如何在不改變電路的情況下測量接觸電阻

   一種新的方法將解決它。這種方法對于測量復(fù)雜機械組件中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義為觸點兩端的電壓與流過一對閉合觸點的電流之比。它符合歐姆定律。金屬 1 和金屬 2 之間有一個接口。來自電流源的電流 I 流過這個接口，可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表讀取接口上的電壓降到 U。然后可以計算接觸電阻值Rx。

　　Rx=U/I

　　由于接觸電阻隨環(huán)境和電流的通過而變化，因此測量條件應(yīng)接近使用條件。準(zhǔn)確的測量必須使用四端測量技術(shù)和熱電動勢消除技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個測試點、三個步驟和三個公式。該方法已被證明是正確的，也可用于校準(zhǔn)回路電阻標(biāo)準(zhǔn)。

　　接觸電阻測試的典型方法

　　四線（開爾文）直流電壓降是使用微歐表進行接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準(zhǔn)確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個電流連接進行注入和兩個電位引線進行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并始終位于由連接的電流引線形成的電路內(nèi)。

　　基于電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中熱電動勢 效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差（熱電動勢是兩種不同金屬連接在一起時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）如果不是通過不同的方法（極性反轉(zhuǎn)和平均，熱電動勢的直接測量），它們將被添加到測量的總電壓降中。幅度等）從測量中減去它們，這會在接觸電阻測試中引入誤差。

　　如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，建議在更高電流下重新測試接觸。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產(chǎn)生錯誤（較高）的讀數(shù)。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便可以將其與以前和未來的結(jié)果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，必須在相同的位置、使用相同的測試線（始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜）和相同的條件下進行接觸電阻測試，以便知道何時連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。